万深LC系列高精度芯片计数仪
1．仪器原理与用途：
通过成像来获取平面上的芯片图像，并进行自动计数分析，测量出其颗粒数量。
2．主要性能指标：
1）具有微距拍摄特性自动对焦的大景深800万像素（3264x2448像素）拍摄仪来成像。
2）晶粒尺寸≥200um×200um，最小间隙≥200um，有效计数晶粒的视野60× 60mm左右。若晶粒尺寸和最小间隙都加倍，有效计数晶粒的视野也可加倍。
3）计数速度和误差：拍照+运算时间≤3秒，误差≤±0.2%。经极少量手动修正后可达100%准确。
4）可接入条码枪来自动刷入样品编号，分析图像和分析结果可导出存储，以便进行产量统计和交易凭证。
4．仪器规格与配置：
自动对焦的大景深800万像素拍摄仪1台、开放式背光灯板1付、1个条码枪、软件锁1只、软件光盘1张（含电子版操作手册）。
注：电脑需另配，建议选14代酷睿i5 CPU/16G内存，运行环境Windows10或11完整专业版。